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X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度。配置高計(jì)數(shù)率電路,增加檢測(cè)器的計(jì)數(shù)量。增加時(shí)間縮短功能,由X射線熒光強(qiáng)度算出測(cè)定精度,自動(dòng)判斷所需Z少測(cè)定時(shí)間。增加自動(dòng)工作曲線選擇功能,依據(jù)識(shí)別樣品種類的不同而選擇Z適宜的工作曲線。
X射線熒光光譜儀主要分析項(xiàng)目:
● 鉛(Pb)、鎘(Cd)、汞(Hg)、鉻(Cr)、溴(Br)
● 鹵素元素 氯(Cl)溴(Br)以及玩具行業(yè)八大有害重金屬分析
● 通過改進(jìn)硬件,Pb、Cd等的檢測(cè)靈敏度提高2倍
配置新型濾光片,提高Pb、Cd等的靈敏度。
配置高計(jì)數(shù)率電路,增加檢測(cè)器的計(jì)數(shù)量。
增加時(shí)間縮短功能,由X射線熒光強(qiáng)度算出測(cè)定精度,自動(dòng)判斷所需zui少測(cè)定時(shí)間。
增加自動(dòng)工作曲線選擇功能,依據(jù)識(shí)別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線。
X射線熒光光譜儀產(chǎn)品介紹及技術(shù)特點(diǎn):
1. 元素的檢測(cè)范圍很寬( Al13~U92元素),有效應(yīng)對(duì)RoHS,無(wú)鹵,重金屬等各界未來擴(kuò)展項(xiàng)目;
2. 固體,粉末,液體都無(wú)需破壞性的樣品前處理的快速簡(jiǎn)便分析(30sec~3min), 適用于快速評(píng)價(jià)RoHS,無(wú)鹵,ELV法規(guī)的有害元素的新裝置。
3. 使用的Si(PIN)半導(dǎo)體檢測(cè)器,不再需要液氮制冷,同時(shí)也*能很好的對(duì)樣品進(jìn)行分析,為用戶節(jié)約一筆可觀的費(fèi)用.
4. 無(wú)鹵檢測(cè),使用不同濃度的六塊標(biāo)準(zhǔn)樣品建立工作曲線,在同行業(yè)中分析Cl偏差zui小,大氣氛圍中,zui低可測(cè)試23ppm
5. 全新的濾光片組 合可獲得高精度的測(cè)試數(shù)據(jù);*對(duì)應(yīng)IEC制定的3σ的判定標(biāo)準(zhǔn)。
6. 采用第三方標(biāo)準(zhǔn)樣品制作工作曲線,符合計(jì)量認(rèn)證的法規(guī)。
7 . 儀器開機(jī)一鍵式操作,且自動(dòng)進(jìn)行光管老化步驟,大大提高了光管的工作壽命(延長(zhǎng)了正常光管壽命的四分之一的時(shí)間)
8 . 應(yīng)用FP法可進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣定性定量元素分析。
9 . 可進(jìn)行快速的定性分析和精確定量分析,zui小精度達(dá)1.7ppm滿足SONY-GP環(huán)保要求。
10. 可靠的X射線防護(hù)措施,通過了華南、華東和華北的環(huán)境保護(hù)檢測(cè)